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高低溫冷熱沖擊試驗箱 電子元器件測試是一種專門用于模擬快速溫度變化的可靠性環境試驗設備。其核心功能是在最短時間內,使測試樣品承受高溫與低溫之間的急劇轉換,以檢驗電子元器件在溫度劇變環境下的耐受能力及性能穩定性。
產品型號:TSD-80F-2P
廠商性質:生產廠家
更新時間:2026-01-15
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高低溫冷熱沖擊試驗箱,又稱溫度沖擊試驗箱或熱沖擊試驗箱,是一種專門用于模擬快速溫度變化的可靠性環境試驗設備。其核心功能是在最短時間內,使測試樣品承受高溫與低溫之間的急劇轉換,以檢驗電子元器件在溫度劇變環境下的耐受能力及性能穩定性。
該設備主要用于評估電子元器件、PCB電路板、集成電路、模塊、汽車電子、電子等產品在突然遭遇高低溫環境時的物理和電氣性能變化。通過加速試驗,可以在短時間內發現由材料不匹配、焊接缺陷、封裝密封性不足等引起的潛在故障,是產品可靠性篩選和品質驗證的關鍵手段。
主流的試驗箱通常采用“三箱式"(預冷區、預熱區、測試區)或“兩箱式"(高溫箱、低溫箱)結構。測試時,樣品通過一個提籃或移動平臺,在高溫室和低溫室之間進行快速、自動轉換。轉換時間通常在數秒至一分鐘內完成,從而實現溫度從高(如+150°C)到極低(如-65°C)的瞬時沖擊。
快速溫變:采用高效的加熱與制冷系統(如復疊式壓縮機或液氮輔助),實現溫度的急速升降。
高精度控制:采用PID+SSR智能控制,確保高低溫槽及測試區的溫度精度和均勻性。
自動化測試:通過觸摸屏人機界面,可預設多達數百個沖擊循環,全自動運行,并記錄實時數據與曲線。
安全保護:具備完善的超溫保護、壓縮機延時保護、漏電保護等多重安全機制。
耐久設計:內膽采用高品質不銹鋼,保溫層加厚,確保設備長期穩定運行。
轉換時間極短:空氣式轉換時間通常≤10秒,大限度模擬真實沖擊。
寬廣的溫度范圍:高溫可達+200°C以上,低溫可至-80°C或更低,滿足各類嚴苛標準。
低熱負荷設計:優化的風道與結構設計,確保樣品在轉換過程中承受真實溫度沖擊,而非僅受箱內空氣影響。
符合國際標準:嚴格遵循IEC 60068-2-14、MIL-STD-883、JESD22-A104等電子行業通用測試標準。
溫度范圍:高溫區:+60°C ~ +200°C;低溫區:-10°C ~ -65°C 或更低
沖擊范圍:-40°C ~ +150°C(常用)
轉換時間:≤10秒(試樣從高溫到低溫或反之,空氣式)
溫度恢復時間:≤5分鐘(恢復至設定溫度)
溫度波動度:±0.5°C
溫度均勻度:±2.0°C
內箱尺寸:可根據需求定制(如40L, 80L, 100L等)







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