冷熱沖擊試驗(yàn)箱 電子元器件設(shè)備

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 電子元器件設(shè)備

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)領(lǐng)域的測試設(shè)備，其性能穩(wěn)定、堅(jiān)固耐用的特點(diǎn)使得它在各種環(huán)境條件下都能夠保持出色的表現(xiàn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 電子元器件設(shè)備

型號：TSD-36F-2P   溫度范圍：-20～150℃

2.工作室溫度范圍：0;-20;-40;-60;-70～+100℃(150℃)

3.濕度范圍： 20%～98% R.H（溫度在25℃～80℃時(shí)）（可設(shè)定恒濕）

4.溫度均勻度： ≤±2℃ （空載時(shí)）

5.濕度均勻度： ≤+2% ~ -3% R.H

6.溫度波動度： ≤±0.5℃（空載時(shí)）

7.濕度波動度： ≤±2% 

8.溫度偏差： ≤±2℃ （空載時(shí)）

9.濕度偏差： ±2.5%R.H(濕度≥75%R.H)   ±3%R.H(濕度≤75%R.H)

10、降溫速率：0.7～1.2℃/min  

11、升溫速度：1.0～3.0℃/min12、時(shí)間設(shè)定范圍：  0～9999 小時(shí)

13、溫度交變范圍：-20;-40;-60;-70；-100℃～100℃(150℃)（自定）

14、濕度交變范圍：30%～98% R.H（自定）

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱以其性能穩(wěn)定、堅(jiān)固耐用的特點(diǎn)在各種工業(yè)領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。通過使用該設(shè)備進(jìn)行產(chǎn)品測試，企業(yè)可以更加準(zhǔn)確地評估產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下的性能表現(xiàn)，提高產(chǎn)品質(zhì)量和市場競爭力。