電子芯片高低溫箱 精密元器件可靠性測(cè)試是專為電子芯片、集成電路（IC）、MCU、存儲(chǔ)顆粒等精密元器件設(shè)計(jì)的可靠性環(huán)境測(cè)試設(shè)備。它通過模擬產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)、運(yùn)輸及使用過程中可能遭遇的高低溫環(huán)境，對(duì)其進(jìn)行應(yīng)力篩選和適應(yīng)性測(cè)試，是提升產(chǎn)品質(zhì)量、發(fā)現(xiàn)潛在缺陷、驗(yàn)證產(chǎn)品壽命的關(guān)鍵工具。

高低溫溫?zé)嵩囼?yàn)箱 環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證設(shè)備 作為環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證核心設(shè)備，通過精準(zhǔn)模擬 - 70℃至 150℃溫度與 20% RH - 98% RH 濕度環(huán)境，為產(chǎn)品可靠性測(cè)試提供標(biāo)準(zhǔn)場(chǎng)景。設(shè)備融合 PID 智能控溫與濕度調(diào)節(jié)技術(shù)，誤差范圍控制在 ±0.5℃、±2% RH，滿足 GB、IEC 等嚴(yán)苛測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。其模塊化設(shè)計(jì)兼顧穩(wěn)定性與擴(kuò)展性，配置可視化觸摸屏與多重安全防護(hù)機(jī)制，廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)檢環(huán)節(jié)，

高低溫溫?zé)嵩囼?yàn)箱 安全性能檢測(cè)裝置是依據(jù)國家及國際相關(guān)安全標(biāo)準(zhǔn)（如GB 4706.1、IEC 60335-1等）設(shè)計(jì)的專用檢測(cè)設(shè)備。它集成了高低溫、濕熱交變環(huán)境模擬與實(shí)時(shí)電氣安全參數(shù)測(cè)量功能，主要用于在嚴(yán)酷氣候條件下，對(duì)家用電器、電子元器件、汽車零部件等產(chǎn)品的安全性能進(jìn)行綜合驗(yàn)證與可靠性評(píng)估。該裝置通過精確模擬溫濕度環(huán)境。

儀表高低溫溫?zé)嵩囼?yàn)箱 環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證裝置是一種模擬自然環(huán)境（溫度、濕度）的精密檢測(cè)設(shè)備。主要用于測(cè)試儀表、電子元器件、材料等在循環(huán)溫濕度條件下的性能、可靠性與環(huán)境適應(yīng)性。

高低溫測(cè)試箱 溫度范圍-70℃至+150℃是一款精密的環(huán)境可靠性試驗(yàn)設(shè)備，專為模擬溫度條件而設(shè)計(jì)。其核心工作溫度范圍覆蓋-70℃至+150℃，能夠精確、穩(wěn)定地再現(xiàn)嚴(yán)酷的高溫、低溫及溫度循環(huán)變化環(huán)境，滿足各類產(chǎn)品（如電子元器件、汽車零部件、航空航天產(chǎn)品、新材料等）的耐高溫、耐低溫、高低溫交變適應(yīng)性等試驗(yàn)需求，是進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制、型式試驗(yàn)及可靠性篩選關(guān)鍵設(shè)備。

高低溫溫?zé)嵩囼?yàn)箱 電子環(huán)境耐受性測(cè)試系統(tǒng)是一種模擬溫度與濕度環(huán)境的精密實(shí)驗(yàn)設(shè)備。它主要用于評(píng)估電子產(chǎn)品、零部件、材料在設(shè)定溫濕度條件下的性能、可靠性及環(huán)境耐受性，是產(chǎn)品質(zhì)量控制、研發(fā)改進(jìn)關(guān)鍵工具。

高低溫濕熱試驗(yàn)箱 低耗能高效運(yùn)行是一種用于模擬溫度及濕度環(huán)境的測(cè)試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天、材料、化工等行業(yè)，用于檢測(cè)產(chǎn)品在高溫、低溫、濕熱等條件下的性能穩(wěn)定性及可靠性。本設(shè)備采用低耗能高效運(yùn)行設(shè)計(jì)，結(jié)合智能溫控系統(tǒng)，確保測(cè)試精準(zhǔn)穩(wěn)定，同時(shí)降低能耗，提高測(cè)試效率。

高低溫溫?zé)嵩囼?yàn)箱 光伏組件抗老化環(huán)境模擬是專為光伏組件（太陽能電池板）可靠性測(cè)試而設(shè)計(jì)的高精度環(huán)境模擬設(shè)備。它通過精確控制箱內(nèi)的溫度、濕度及光照（需搭配陽光模擬光源使用），模擬氣候條件，加速驗(yàn)證光伏組件材料的耐候性、電性能衰減及長期可靠性。