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產品分類
Cassification
三箱冷熱沖擊箱帶觀察窗測試過程可視化監控采用獨立的高溫箱、低溫箱及測試箱三腔體結構。設備配備高清晰度多層中空電熱防霧觀察窗,可實現測試全過程的可視化監控,無需開門即可觀察樣品狀態。箱體采用優質不銹鋼材質,結構堅固,并集成智能控制系統與安全聯鎖裝置,確保長期穩定運行與操作安全。
2026-01-13
TSD-100F-3P
635
兩廂式冷熱沖擊試驗箱 自定義循環曲線是一款精密的環境可靠性測試設備,專為測試產品在高低溫急劇變化環境下的耐受性而設計。其核心采用經典的兩箱式(吊籃移動式)結構,并集成了智能控制系統,突破傳統固定溫變率的限制,支持用戶自定義溫度循環曲線,可精確模擬更復雜、更真實的溫度沖擊環境,為產品質量驗證提供測試靈活性。
2026-01-10
TSD-80F-2P
778
TSD系列兩箱氣體式高低溫交變試驗機 適用于電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高低溫環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗;是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設備。
2026-01-01
TSD-252F-2P
788
液體式冷熱沖擊試驗箱 長時間連續運行穩定又稱高低溫液體沖擊試驗箱,是一種利用高溫與低溫液體(通常為硅油或其他專用介質)作為傳熱媒介,對測試樣品進行溫度快速轉換的可靠性測試設備。其核心特點是利用液體的高熱容量和熱傳導效率,實現遠超空氣介質的極速溫變率,為產品提供嚴酷的溫度沖擊環境。
2026-01-10
TSD-100F-2P
804
半導體芯片高低溫冷熱沖擊試驗箱是專為半導體芯片、集成電路(IC)、封裝模塊等電子元器件的可靠性測試而設計的高精密環境試驗設備。它通過模擬產品在高低溫瞬間變化的環境下的耐受能力,快速暴露其因材料不匹配、焊接疲勞、結構缺陷等問題引起的潛在失效,是確保芯片產品質量與可靠性的關鍵檢測工具。
2026-01-01
TSD-100F-2P
712
電子元器件專用冷熱沖擊試驗箱是專為電子元器件可靠性測試而設計的高精度環境模擬設備。它通過極快的速度在高溫和低溫兩種環境之間進行轉換,模擬元器件在運輸、存儲、啟動和運行過程中可能遭遇的劇烈溫度變化,從而加速暴露其潛在缺陷,如材料開裂、焊接點疲勞、性能漂移等,是評估產品可靠性與耐久性的關鍵設備。
2026-01-01
TSD-36F-2P
714
高效節能冷熱沖擊試驗箱是專為測試電子產品、元器件、材料及工業產品在瞬間經歷高溫和極低溫變化后的耐受性而設計的精密環境試驗設備。其核心在于模擬嚴苛溫度沖擊環境,以驗證產品的可靠性、穩定性和潛在缺陷,是提升產品質量的關鍵裝備。
2026-01-01
TSD-36F-2P
699
多段編程冷熱沖擊試驗箱 支持復雜測試流程是一款精密的環境可靠性測試設備,專為模擬溫度變化環境而設計。其核心優勢在于搭載了多段可編程控制器,用戶可預先設置多達數十個甚至上百個測試步驟,精確控制每個階段的溫度、停留時間和循環次數,以復現各種復雜、嚴苛的溫度沖擊場景,為產品質量驗證提供測試靈活性。
2026-01-01
TSD-100F-2P
827

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