【百科】高低溫試驗箱核心技術原理與性能指標詳析

更新時間：2025-12-10

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高低溫試驗箱作為環(huán)境可靠性測試核心設備，可模擬 - 70℃至 150℃（常規(guī)范圍）的溫度環(huán)境，用于驗證電子、汽車、航空航天等領域產品的耐溫性能。其技術核心圍繞溫度精準控制與環(huán)境穩(wěn)定模擬展開，關鍵原理與性能指標如下：

一、核心技術原理

制冷系統(tǒng)：采用 “雙級壓縮制冷” 技術，一級壓縮機將制冷劑（如 R404A）壓縮至中溫高壓狀態(tài)，經冷凝器散熱后，進入二級壓縮機進一步壓縮至低溫高壓，再通過毛細管節(jié)流降壓，在蒸發(fā)器內吸收箱內熱量，實現快速降溫。該設計可避免單級壓縮在低溫段的效率衰減，確保 - 40℃以下穩(wěn)定制冷。

加熱系統(tǒng)：多采用不銹鋼鎧裝加熱管，通過 PID（比例 - 積分 - 微分）溫控器調節(jié)加熱功率，實現均勻升溫。加熱管分布于箱內風道，配合離心風機形成強制對流，避免局部溫度偏差，升溫速率可達 5℃/min（常規(guī)機型）。

控溫系統(tǒng)：以鉑電阻（PT100）為溫度傳感器，實時采集箱內溫度信號，傳輸至微處理器與設定值對比。通過調節(jié)制冷電磁閥開度與加熱管功率，動態(tài)平衡箱內溫度，控溫精度可達 ±0.5℃，滿足嚴苛測試需求。

二、關鍵性能指標

溫度范圍：常規(guī)機型覆蓋 - 70℃~150℃，特殊定制機型可拓展至 - 100℃~200℃，需根據測試標準（如 GB/T 2423.1）選擇適配范圍。

溫度波動度：衡量溫度穩(wěn)定性，優(yōu)質設備波動度≤±0.5℃（空載），測試時需在箱內不同位置（如中心、角落）布置傳感器，避免氣流死角導致的波動超標。

升降溫速率：常規(guī)機型降溫速率≥1℃/min（從 25℃至 - 40℃）、升溫速率≥3℃/min（從 25℃至 100℃），速率過快易導致產品熱沖擊損傷，需根據試樣特性設定。

實際應用中，需結合測試標準與產品特性，平衡性能指標與測試效率，同時定期校準溫度傳感器與制冷系統(tǒng)，確保試驗數據準確性。